一单一库标准查询 - 国家市场监督管理总局能力项目库

国家市场监督管理总局《检验检测机构资质认定能力项目库》在线查询系统 · 共 56,591 项国家标准/参数 · 支持按领域、编号、名称检索

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56,591 条标准/参数
国家市场监督管理总局能力项目库,共56,591项
序号 标准编号 标准(方法)名称 领域 备注
19876 GB/T6609.3-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法钼蓝光度法测定二氧化硅含量 产品质量检验
19877 GB/T6609.30-2022 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第30部分:微量元素含量的测定波长色散X射线荧光光谱法 产品质量检验
19878 GB/T6609.32-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第32部分:α-三氧化二铝含量的测定X-射线衍射法 产品质量检验
19879 GB/T6609.34-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第34部分:三氧化二铝含量的计算方法 产品质量检验
19880 GB/T6609.35-2023 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第35部分:比表面积的测定氮吸附法 产品质量检验
19881 GB/T6609.4-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法邻二氮杂菲光度法测定三氧化二铁含量 产品质量检验
19882 GB/T6609.5-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法氧化钠含量的测定 产品质量检验
19883 GB/T6609.6-2018 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法第6部分:氧化钾含量的测定 产品质量检验
19884 GB/T6609.7-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法二安替吡啉甲烷光度法测定二氧化钛含量 产品质量检验
19885 GB/T6609.8-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法二苯基碳酰二肼光度法测定三氧化二铬含量 产品质量检验
19886 GB/T6609.9-2004 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法新亚铜灵光度法测定氧化铜含量 产品质量检验
19887 GB/T661-2011 化学试剂六水合硫酸铁(Ⅱ)铵(硫酸亚铁铵) 产品质量检验
19888 GB/T6616-2023 半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试非接触涡流法 产品质量检验
19889 GB/T6617-2009 硅片电阻率测定扩展电阻探针法 产品质量检验
19890 GB/T6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法 产品质量检验
19891 GB/T6619-2009 硅片弯曲度测试方法 产品质量检验
19892 GB/T6620-2009 硅片翘曲度非接触式测试方法 产品质量检验
19893 GB/T6621-2009 硅片表面平整度测试方法 产品质量检验
19894 GB/T6624-2009 硅抛光片表面质量目测检验方法 产品质量检验
19895 GB/T664-2011 化学试剂七水合硫酸亚铁(硫酸亚铁) 产品质量检验
19896 GB/T6645-2008 用于水泥中的粒化电炉磷渣 产品质量检验
19897 GB/T665-2007 化学试剂五水合硫酸铜(Ⅱ)(硫酸铜) 产品质量检验
19898 GB/T6656-2008 铁氧体永磁直流电动机 产品质量检验 废止,仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请
19899 GB/T666-2011 化学试剂七水合硫酸锌(硫酸锌) 产品质量检验
19900 GB/T6663.1-2007 直热式负温度系数热敏电阻器第1部分:总规范 产品质量检验