一单一库标准查询 - 国家市场监督管理总局能力项目库

国家市场监督管理总局《检验检测机构资质认定能力项目库》在线查询系统 · 共 56,591 项国家标准/参数 · 支持按领域、编号、名称检索

本站提供 一单一库标准 在线查询与 CMA一单一库比对 功能， 基于国家市场监督管理总局 检验检测机构资质认定能力项目库， 帮助 第三方实验室 快速完成 实验室CMA认证 标准合规性检查与 标准能力校验。
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共 56,591 条标准/参数
国家市场监督管理总局能力项目库，共56,591项
序号 标准编号 标准(方法)名称 领域 备注
18876 GB/T4937.12-2018 半导体器件机械和气候试验方法第12部分:扫频振动 产品质量检验
18877 GB/T4937.14-2018 半导体器件机械和气候试验方法第14部分:引出端强度(引线牢固性) 产品质量检验
18878 GB/T4937.15-2018 半导体器件机械和气候试验方法第15部分:通孔安装器件的耐焊接热 产品质量检验
18879 GB/T4937.19-2018 半导体器件机械和气候试验方法第19部分:芯片剪切强度 产品质量检验
18880 GB/T4937.2-2006 半导体器件机械和气候试验方法第2部分:低气压 产品质量检验
18881 GB/T4937.20-2018 半导体器件机械和气候试验方法第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响 产品质量检验
18882 GB/T4937.21-2018 半导体器件机械和气候试验方法第21部分:可焊性 产品质量检验
18883 GB/T4937.22-2018 半导体器件机械和气候试验方法第22部分:键合强度 产品质量检验
18884 GB/T4937.24-2025 半导体器件机械和气候试验方法第24部分:加速耐湿无偏置强加速应力试验 产品质量检验
18885 GB/T4937.25-2025 半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环 产品质量检验
18886 GB/T4937.26-2023 半导体器件机械和气候试验方法第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试人体模型(HBM) 产品质量检验
18887 GB/T4937.28-2026 半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电(ESD)敏感度测试带电器件模型(CDM)器件级 产品质量检验
18888 GB/T4937.29-2025 半导体器件机械和气候试验方法第29部分:闩锁试验 产品质量检验
18889 GB/T4937.3-2012 半导体器件机械和气候试验方法第3部分:外部目检 产品质量检验
18890 GB/T4937.33-2025 半导体器件机械和气候试验方法第33部分:加速耐湿无偏置高压蒸煮 产品质量检验
18891 GB/T4937.34-2024 半导体器件机械和气候试验方法第34部分:功率循环 产品质量检验
18892 GB/T4937.4-2012 半导体器件机械和气候试验方法第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST) 产品质量检验
18893 GB/T494-2010 建筑石油沥青 产品质量检验
18894 GB/T494-2025 建筑石油沥青 产品质量检验
18895 GB/T4942-2021 旋转电机整体结构的防护等级(IP代码)分级 产品质量检验
18896 GB/T4942.1-2006 旋转电机整体结构的防护等级(IP代码)-分级 产品质量检验 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请
18897 GB/T4944-2005 玻璃纤维增强塑料层合板层间拉伸强度试验方法 产品质量检验
18898 GB/T4945-2002 石油产品和润滑剂酸值和碱值测定法(颜色指示剂法) 产品质量检验
18899 GB/T4947-2003 工业赤磷 产品质量检验
18900 GB/T4948-2002 铝-锌-铟系合金牺牲阳极 产品质量检验 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请