一单一库标准查询 - 国家市场监督管理总局能力项目库
国家市场监督管理总局《检验检测机构资质认定能力项目库》在线查询系统 · 共 56,591 项国家标准/参数 · 支持按领域、编号、名称检索
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共 56,591 条标准/参数
| 序号 | 标准编号 | 标准(方法)名称 | 领域 | 备注 |
|---|---|---|---|---|
| 26151 | IEC60745-2-9:2008 | 手持式电动工具的安全第2部分:攻丝机的专用要求Hand-held motor-operated electric tools - Safety - Part 2-9: Particular requirements for tappers | 产品质量检验 | |
| 26152 | IEC60747-15:2010 | 半导体器件分立器件第15部分:隔离式功率半导体器件Semiconductor devices - Discrete devices - Part 15: Isolated power semiconductor devices | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26153 | IEC60747-15:2024 | 半导体器件第15部分:分立器件绝缘型半导体器件Semiconductor devices-Part 15-Discrete devices-Isolated power semiconductor devices | 产品质量检验 | |
| 26154 | IEC60747-2:2000 | 半导体器件分立器件和集成电路第2部分:整流二极管Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 2: Rectifier diodes | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26155 | IEC60747-2:2016 | 半导体器件第2部分:分立器件整流二极管Semiconductor devices - Part 2: Discrete devices - Rectifier diodes | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26156 | IEC60747-8:2010 | 半导体器件-分立器件-第8部分:场效应晶体管Semiconductor devices - Discrete devices - Part 8: Field-effect transistors | 产品质量检验 | |
| 26157 | IEC60747-9:2007 | 半导体器件分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBTs)Semiconductor devices - Discrete devices - Part 9: Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26158 | IEC60747-9:2019 | 半导体器件分立器件第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)Semiconductor devices - Part 9- Discrete devices - Insulated-gate bipolar transistors (IGBTs) | 产品质量检验 | |
| 26159 | IEC60748-11:1990 | 半导体器件集成电路第11部分:半导体集成电路分规范(不包括混合电路)Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 11: Sectional specification for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits | 产品质量检验 | |
| 26160 | IEC60749-1:2002 | 半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General | 产品质量检验 | |
| 26161 | IEC60749-23:2004/AMD1:2011 | 修改件1半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Amendment 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26162 | IEC60749-23:2004+A1:2011 | 半导体器件机械和气候试验方法第23部分:高温工作寿命Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life | 产品质量检验 | |
| 26163 | IEC60749-25:2003 | 半导体器件机械和气候试验方法第25部分:温度循环Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling | 产品质量检验 | |
| 26164 | IEC60749-26:2025 | 半导体器件-机械和气候试验方法-第26部分:静电放电(ESD)灵敏度测试-人体模型(HBM)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM) | 产品质量检验 | |
| 26165 | IEC60749-28:2022 | 半导体器件机械和气候试验方法第28部分:静电放电(ESD)灵敏度试验带电器件模型(CDM)器件级Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level | 产品质量检验 | |
| 26166 | IEC60749-29:2011 | 半导体器件-机械和气候测试方法-第29部分:闩锁测试Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test | 产品质量检验 | |
| 26167 | IEC60749-34:2010 | 半导体器件机械和气候试验方法第34部分:功率循环Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34: Power cycling | 产品质量检验 | |
| 26168 | IEC60749-4:2002 | 半导体器件机械和气候试验方法第4部分:强加速稳态湿热试验(HAST)Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST) | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26169 | IEC60749-5:2017 | 半导体器件机械和气候试验方法第5部分:稳态温湿度偏置寿命试验Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26170 | IEC60749-5:2023 | 半导体器件机械和气候试验方法第5部分:稳态湿热偏置寿命试验Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test | 产品质量检验 | |
| 26171 | IEC60749-6:2017 | 半导体器件机械和气候试验方法第6部分:高温存储寿命Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature | 产品质量检验 | |
| 26172 | IEC60751:2008 | 工业铂热电阻及铂感温元件Industrial platinum resistance thermometers and platinum temperature sensors | 产品质量检验 | 废止，仅限能力项目库范围内现行有效产品标准引用本标准及监督抽检时申请 |
| 26173 | IEC60754-1:1994 | 取自电缆或光缆的材料燃烧时释出气体的试验方法第1部分:卤素气体总量的测定Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the amount of halogen acid gas | 产品质量检验 | |
| 26174 | IEC60754-1:2011 | 取自电缆或光缆的材料燃烧时释出气体的试验方法第1部分:卤酸气体量的测定Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content | 产品质量检验 | |
| 26175 | IEC60754-1:2011+AMD1:2019 | 电缆材料燃烧时释出气体的试验第1部分:卤酸气体含量的测定Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content | 产品质量检验 |